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日本日置HIOKI 日置 FT3470-51|52磁场测试仪
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日本日置HIOKI 日置 FT3470-51|52磁场测试仪

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公司介绍
适用于3轴的磁通密度测量
● 适用于以ICNIRP2010准则为基础的评估试验● 符合IEC62110/IEEE 644以及EN62233标准● 标配符合IEC/EN62233的100cm2的磁场传感器● 显示单位可选(T,A/m,G)● 操作简单,轻松测量● 标配PC应用软件● 可以用于无线充电评价系统TS2400
磁通密度(带宽)10 Hz~400 kHz/ 10 Hz~2 kHz/ 2 kHz~400 kHz曝露等级一般/专业显示X/Y/Z单轴(2000点),复合真有效值R(3464点),磁通密度(单位:T,G,A/m),曝露等级(单位:%)磁通密度量程,精度[X/Y/Z轴]有效测量范围:2.000 μT~2.000 mT,4档量程精度:±3.5% rdg. ±0.5% f.s.[R轴]有效测量范围:3.464 μT~3.464 mT, 4档量程精度:±3.5% rdg. ±0.5% f.s.[有效测量频率范围] 10Hz-400kHz模式时: 50Hz~100kHz10Hz-2kHz模式时: 50Hz~1kHz2kHz-400kHz模式时: 5kHz~100kHz
曝露等级量程,精度[X/Y/Z轴]有效测量范围:20.00%~200.0%, 2档量程[R轴]有效测量范围:34.64%~346.4%, 2档量程精度:平滑边缘50Hz~1kHz,±3.5% rdg. ±0.5% f.s.精度:平滑边缘1kHz~100kHz,±5.0% rdg. ±0.5% f.s.接口输出种类:合成真有效值电平输出,曝露等级输出,磁通密度X/Y/Z各轴的波形输出,输出率:0.1mV/显示点... [详细介绍]
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